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扫描电子显微镜 (SEM) 是用于对材料的微观结构和形态进行成像的常用方法之一。在 SEM 中,低能电子束撞击材料并扫描样品表面。当光束到达并进入材料时,会发生各种相互作用,导致样品表面或附近发射光子和电子。为了生成图像,使用不同类型的检测器检测由电子-样品相互作用产生的接收信号,具体取决于所使用的 SEM 模式。有各种 SEM 模式可用于表征材料,包括生物材料。B. X 射线成像、二次电子成像、背散射电子成像、电子通道、俄歇电子显微镜。
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