机构名称：
¥ 1.0
X射线吸收是一种通过样品的元素构成来研究物质的方法。该方法对像2P（如2p）的共振内壳激发特别敏感！3D或3D！4F过渡，可以获得亚层敏感性。在这里，我们报告了总电子产量的Everhart - Thornley（ET）检测方案，该方案可在低光子通量下具有高质量的XAS，这是辐射敏感样品的曼陀罗。我们将ET电子产量检测方案应用于HO M 5和M 4边缘的HO 3 N@C 80内hode骨的单层量的X射线吸收。分子（如内叶列烯）是分子旋转型和电子产品的候选成分，其中XAS可能会揭示内侧单元的构象和磁性。1在当前的XAS应用中，我们研究了温度内部方向的可能变化，众所周知，单层内叶烯的平均方向可能在30 K和室温（RT）之间变化。2
石墨烯上Ho3n@C80的单层。
主要关键词
相关文件推荐
