机构名称：
¥ 2.0
在扭曲的双层系统中观察到的多样化和有趣的现象，例如石墨烯和过渡金属二核苷，引发了有关它们可能托管的新兴效应的新问题。然而，在足够大以进行光谱研究的规模上实现这些结构的实际挑战仍然是一个巨大的障碍，导致直接测量扭曲过渡金属二甲基化元素双层的电子带结构的直接测量很少。在这里，我们提出了一个系统的纳米级角度分辨光发射光谱调查，对散装，单层和扭曲的双层WS 2的光发射调查，小扭曲角为4.4°。实验结果与基于高对称方向的密度函数理论的理论计算进行了比较。出乎意料的是，电子带结构的测量表明，结构弛豫以4.4°扭曲角出现，并形成了大型，不WIST的双层区域。
纳米 - 扭曲的双层钨二硫化物的调查
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