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近场扫描免疫（NFSI）[1]是一种强大的测量工具，可检测和诊断与电磁（EM）干扰偶联的故障印刷电路板（PCB）[2] [3]或集成电路（IC）[4]。最近的研究表明，如何处理该方法的结果，以估计辐射连续波（CW）干扰的易感性[5] [6]。但是，该方法受到过度测量时间的限制，在工业环境中可能会过时。测量时间取决于表面进行扫描，分析的频率范围和分辨率以及正在测试的设备（DUT）。减少扫描持续时间的一种方法是对扫描位置和利益频率的事先确定，也就是说，DUT在哪里表现出易感性最大值。完成了快速初始测试后，可以将CW模式下的NFSI配置为仅关注这些点和感兴趣的频率并捕获更精确的敏感性图。
一种加速近场扫描免疫测试的预扫描方法
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