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电离真空计被校准实验室用作二级标准，并被用作计量实验室之间比对的传递标准。对于这些应用来说，定量测量仪表稳定性与仪表校准因子的关系至关重要。我们报告了热丝金属外壳封闭电离计的长期校准稳定性，该报告基于对 15 年内九个仪表的重复校准的分析。研究中涉及的所有仪表均为同一类型：Bayard-Alpert 型电离计，采用全金属结构，热丝、网格和收集器周围有一体式金属外壳。所有仪表均在美国国家标准与技术研究所 (NIST) 使用 NIST 高真空标准反复校准，但归 NIST 以外的组织所有。校准后，仪表从高真空标准中取出，运回仪表所有者，并在稍后（超过 1 年）返回 NIST 进行重新校准。仪表稳定性是使用基于 NIST 测量的所有校准因子的合并标准偏差（单个仪表标准偏差的加权均方根平均值）来确定的，并用于定义与长期稳定性 u LTS 相关的相对不确定度分量。我们确定，对于以 4 mA 发射电流运行的仪表，u LTS = 1.9%（k = 1），对于以 0.1 mA 发射电流运行的仪表，u LTS = 2.8%（k = 1）。[http://dx.doi.org/10.1116/1.4750482]
金属外壳封闭的拜尔-阿尔珀特电离计的长期稳定性
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