摘要 — 旁道攻击利用非主要通道泄露的信息(例如功耗、电磁辐射或时间)从加密设备中提取敏感数据。在过去的三十年中,旁道分析已经发展成为一个成熟的研究领域,拥有成熟的方法来分析高级加密标准 (AES) 等标准加密算法。然而,旁道分析与形式化方法的结合仍然相对未被探索。在本文中,我们提出了一种将旁道分析与 SAT 相结合的 AES 混合攻击。我们将 AES 建模为 SAT 问题,并利用通过基于深度学习的功率分析提取的 S 盒输入和输出值的提示来解决它。在 ATXmega128D4 MCU 实现的 AES-128 上的实验结果表明,SAT 辅助方法可以在一小时内从与用于分析的设备不同的设备捕获的单个跟踪中一致地恢复完整的加密密钥。相比之下,如果没有 SAT 的协助,经过 26 小时的关键普查后,成功率仍然低于 80%。
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