物理不可克隆函数 (PUF) 作为安全原语出现,可为安全应用生成高熵、抗回火位。然而,实现面积预算限制了它们在物联网、RFID 和生物医学等轻量级应用中的使用。以 SRAM 或 D 触发器的形式,内在 PUF 几乎在所有设计中都大量存在。作为设计不可或缺的一部分,它们的使用可能会损害性能。在本文中,为了解决内在 PUF 的使用问题,提出了一种基于 D 触发器的轻量级 PUF。所提出的架构采用 40 nm CMOS 技术实现。模拟结果表明,它的唯一性为 0.502,在高温 125°C 下的最坏情况可靠性为 95.89%,在电源电压为 1.2 V 时为 97.89%。为了评估各种 PUF 架构的性能,提出了一个新术语——唯一性与可靠性比。与传统 D 触发器相比,在相同的布局面积下,该触发器的独特性提高了 4.491 倍,独特性与可靠性比提高了 127.74 倍。由于该触发器采用对称结构,与其他架构不同,该触发器不需要任何后处理方案来消除偏差,从而进一步节省了硅片面积。为了验证模拟结果的功能正确性,本文还介绍了传统和所提出的 D 触发器的 FPGA 实现。
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