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为了在V点结构中获得最高的积分存储密度,单偏度单抗性(1S1R)结构中选择器的工作电流应与电阻随机访问存储器(RRAM)匹配。在这项研究中,选择器设备通过磁控溅射方法设计了TI/NBO X/TI/PT结构,并在超大合规性电流(CC)下实现了阈值切换的出色性能,最高为100 mA。此外,即使CC增加到CC级别,开关电压和设备的离子电阻都表现出极好的稳定性,这归因于开关层中金属NBO的存在。本研究提供了证据,表明Ti/NBO X/Ti/PT设备具有驱动V点结构中RRAM的巨大潜力。

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