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随着量子技术的进步，生成越来越大的量子态的能力得到了快速发展。在此背景下，大型纠缠系统的验证和估计是使用此类系统进行可靠的量子信息处理的主要挑战之一。虽然最完整的技术无疑是全层析成像，但实验和后处理资源随着系统规模的增加而呈指数增长，使得这种方法即使在中等规模下也不可行。因此，目前迫切需要开发超越这些限制的新方法。这篇评论文章介绍了专注于固定数量资源（采样复杂度）的新技术，因此适用于任意维度的系统。具体来说，本文回顾了一个概率框架，该框架最多只需要一个副本即可进行纠缠检测，以及选择性量子态层析成像的概念，该概念能够估计未知状态的任意元素，副本数量较少且与系统大小无关。这些超高效技术为部分断层扫描定义了维度界限，并为新颖的应用开辟了道路。
少量副本的量子验证与估计
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