摘要 首次展示了通过剥离技术在 SiO 2 / Si 衬底上制备的纳米膜三栅极 β -氧化镓 ( β -Ga 2 O 3 ) 场效应晶体管 ( FET )。通过采用电子束光刻技术,可以定义最小尺寸特征,覆盖通道宽度为 50 纳米。为了在 β -Ga 2 O 3 和栅极电介质之间获得高质量的界面,利用原子层沉积的 15 纳米厚的氧化铝 ( Al 2 O 3 ) 和三甲基铝 ( TMA ) 自清洁表面处理。制备的器件表现出极低的亚阈值斜率 ( SS ),为 61 mV dec − 1 ,高的漏极电流 ( I DS ) 开/关比为 1.5 × 10 9 ,以及可忽略不计的传输特性滞后。我们还通过实验证明了这些器件的稳健性,在高达 400°C 的温度下测量了电流-电压(I-V)特性。
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