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了解原子基本参数 (FP)，例如荧光产额、光电离截面和科斯特-克罗尼希跃迁概率，对涉及 X 射线荧光 (XRF) 的任何定量分析都至关重要。不同元素的大部分现有实验和理论 FP 值都是四十多年前获得的。对于某些化学元素和某些 FP，由于不存在实验或理论数据，所以列表数据完全基于插值。不幸的是，大多数列表 FP 数据的不确定性通常不可用或仅是估计的。由于这种情况肯定是可以改善的，国际 X 射线基本参数倡议 [ 1 ] 和其他组织正在努力通过采用最新技术的新实验和计算来重新审视和更新 FP 数据库。在这项工作中，钽 L 壳层基本参数，即荧光产额和科斯特-克罗尼希因子，正在通过实验重新确定。钽是微电子[ 2 , 3 ]、太阳能工业[ 4 ]、医药等领域的关键元素。另一方面，通过实验确定的 Ta-L 壳层荧光蛋白相当稀缺。大多数可用的实验数据都超过 30 年，而最常见表格[ 5 , 6 ] 的不确定性估计值仅为估计值。在这项工作中，我们应用 PTB[ 7 ] 的无参考 XRF 设备以及专用的透射和荧光测量[8] 来重新审视钽的这些参数。
钽壳的实验测定
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