程序委员会:Ali Abdul-Aziz,肯特州立大学(美国);Steven R. Anton,田纳西理工大学(美国);Nicolas P. Avdelidis,克兰菲尔德大学(英国);Nasrin Azari,Floodlight Software(美国);Marija Bertovic,联邦材料研究与测试研究所 (BAM)(德国);Leonard J. Bond,爱荷华州立科技大学(美国);Frank Brueckner,弗劳恩霍夫 IWS(德国);Marcelo Dapino,俄亥俄州立大学(美国);Saman Farhangdoust,麻省理工学院媒体实验室(美国);Kerrie Gath,顾问(美国);Sven Gondrom-Linke,Volume Graphics GmbH(德国);Nathan Ida,阿克伦大学(美国);Robin James,通用汽车公司(美国); Amrita Kumar,Acellent Technologies, Inc.(美国);Daniel Kanzler,Applied Validation of NDT(德国);Jung-Ryul Lee,KAIST(韩国);Zheng Liu,不列颠哥伦比亚大学奥卡纳根分校(加拿大);Theodore E. Matikas,约阿尼纳大学(希腊);Michele Meo,巴斯大学(英国);Alexander Michaelis,Fraunhofer IKTS(德国);Piotr Omenzetter,阿伯丁大学(英国);Martin Oppermann,德累斯顿工业大学,微技术制造中心(德国);Gyuhae Park,全南国立大学(韩国);Kara J. Peters,北卡罗来纳州立大学(美国);Florian Raddatz,德国航空航天中心(德国);W. Lance Richards,阿姆斯特朗飞行研究中心(美国); Sascha Schieke,Molex, LLC(美国);Lennart Schulenburg,VisiConsult X-ray Systems & Solutions GmbH(德国);Stefano Sfarra,拉奎拉大学(意大利);Chris Udell,Voli