机构名称：
¥ 8.0
参加 SEE 的 CIE 考试最低分数为理论部分 15 分（满分 50% -30 分），实践部分 10 分（满分 50% -20 分）。IPCC 的实验室部分仅适用于 CIE。但在 SEE 中，实验室部分的问题应包括在内。IPCC 实践部分最多设置 04/05 个问题，所有问题的总分不应超过 20 分。 SEE 总分为 100 分，学生应获得满分的 40% 才能通过 SEE。所获得的分数将缩减为 50 分。（学生必须获得课程 (CIE+SEE) 最高分数的 50%）建议的学习资源：书籍 1. Michael John Sebastian Smith，“专用集成电路”，Addison-Wesley Professional，2005 2. Neil HE Weste、David Harris 和 Ayan Banerjee，“CMOS VLSI 设计：电路和系统视角”，Addison Wesley/Pearson education 第 3 版，2011 3. Vikram Arkalgud Chandrasetty，“VLSI 设计：FPGA 和 ASIC 实现实用指南”Springer，ISBN：978-1-4614-1119-2。2011 4. Rakesh Chadha、Bhasker J，“ASIC 低功耗入门”，Springer，ISBN： 978-14614-4270-7。5. Peter J. Ashenden 数字设计 (Verilog)：使用 Verilog 的嵌入式系统方法，第 1 版，Kindle 版
m.tech vlsi 设计与嵌入式系统 (lvs)
主要关键词
相关文件推荐
