随着世界各地实验室中实现的量子信息处理器越来越强大,对这些设备的稳健性和可靠性描述现在比以往任何时候都更加紧迫。这些诊断可以采取多种形式,但最受欢迎的类别之一是断层扫描,其中为设备提出了一个底层参数化模型,并通过实验推断出来。在这里,我们引入并实现了高效的操作断层扫描,它使用实验可观测量作为这些模型参数。这解决了当前断层扫描方法中出现的表示模糊问题(规范问题)。解决规范问题使我们能够在贝叶斯框架中有效地计算实现操作断层扫描,从而为我们提供了一种自然的方式来包含先验信息并讨论拟合参数的不确定性。我们在各种不同的实验相关场景中展示了这种新的断层扫描技术,包括标准过程断层扫描、拉姆齐干涉测量法、随机基准测试和门集断层扫描。
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