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在量子光学领域，精确表征各种噪声源（例如散粒噪声、电噪声和真空噪声）对于推进光学测量技术和量子信息系统至关重要。本研究介绍了一种使用同差检测将光强度波动转换为电压信号的实验方法。然后借助示波器或频谱分析仪分析这些信号，以剖析噪声的时间和频谱特性。这些工具的集成使我们能够详细观察和区分量子噪声，从而提供对提高光学系统的准确性和效率至关重要的见解。该项目主要基于两部分：光学和电子学，我们成功完成了光学部分，而电气部分有待未来研究。这些发现为改进量子噪声表征奠定了基础，促进了下一代光学和量子信息技术的发展。
平衡同差检测的光学解释表征
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