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摘要 — 在电路设计领域，与传统的基于晶体管的逻辑相比，场耦合纳米技术 (FCN) 等新兴技术提供了独特的机会。然而，FCN 也带来了一个关键问题：线路交叉对电路稳健性的重大影响。这些交叉要么无法实现，要么会严重降低信号完整性，对高效电路设计造成重大障碍。为了应对这一挑战，我们提出了一种新方法，专注于减少 FCN 电路中的线路交叉。我们的方法引入了 LUT 映射和分解的组合，旨在在逻辑综合过程中产生有利的网络结构，以最大限度地减少线路交叉。这个新的优化指标优先于节点数和关键路径长度，以有效应对这一挑战。通过实证评估，我们证明了所提出方法的有效性，可将线路交叉的第一次近似值降低 41%。69%。这项研究为推进新兴电路技术中的线路交叉优化策略做出了重大贡献，为后 CMOS 逻辑时代更可靠、更高效的设计铺平了道路。
减少场耦合纳米技术中的导线交叉
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