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图 1 化学异质性诱导裂纹停止作为防止氢脆的措施的概念，以及具有奥氏体内部异质 Mn 分布的高强度钢的微观结构。a，概念示意图。b，电子背散射衍射 (EBSD) 相加图像质量 (IQ) 图，显示奥氏体-铁素体双相微观结构。c，基于扫描电子显微镜 (SEM) 的能量色散 X 射线光谱 (EDX) 图，揭示了微观结构中的整体 Mn 分布模式。化学缓冲区是奥氏体相内 Mn 高度富集 (14~16 at.% Mn) 的区域（其中一些以椭圆框标记）。d，高角度环形暗场扫描透射电子显微镜 (HAADF-STEM) 观察和 EDX 分析，显示在一个奥氏体晶簇甚至一个奥氏体晶粒内存在多个富 Mn 区。分别从标记的圆形和矩形框拍摄的选区电子衍射 (SAED) 和高分辨率 TEM (HR-TEM) 图像放在 STEM 图像的右侧。EDX 线轮廓是从 EDX 图中箭头标记的区域拍摄的。
化学异质性增强了高强度钢的抗氢性能
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