i n [1],已报道了多个芯片在重新分布层(RDL)(RDL)上的设计,材料,过程和组装 - 首先是带有风扇淘汰面板级包装(FOPLP)的第一个基材。RDL-第一个底物[1]在临时玻璃载体上制造,由三个RDL组成,其金属层线宽和间距(L/S)等于2/2、5/5和10/10 m m。由于工艺顺序(2/2 m M金属L/sift,5/5 m m秒和10/10 m m三分之一)在制造RDL-第1个基材时,需要将RDL-FIR-FIRSTRATE转移到另一个临时载体上。然后,将第一个临时玻璃载体拆除,并执行芯片到基底键合,以便可以将芯片直接连接到2/2-M M Metal L/S RDL。然而,由于第二辆载体的粘结和第一个载体的拆卸导致了较大的扭曲,因此焊接质量质量的芯片在RDL底物上的产量非常低。因此,在[1]热压缩键中,一次使用一个芯片。在这项研究中,提出了制造RDL底物的新工艺顺序(10/10 m M Metal L/siftim,第一个,5/5 m m秒和2/2 m m三分之二)。在这种情况下,无需将RDL衬底转移到另一架载体上,然后首先通过小强度的热压缩芯片到rdl-substrate键合,然后立即焊接所有芯片的质量。通过滴测试证明了异质集成包的印刷电路板(PCB)组件的可靠性。讨论了结果和失败分析。