基于CMOS的微电极阵列(CMOS MEAS)包含数千个密集的传感器位点,并且通常用于生物技术应用中,以记录高空间(几乎没有……几十µm)和高时间分辨率的神经元活性和高度分辨率(高达20 kHz带翼)。CMOS MEAs能够以几毫秒数的时间精度和数十微米的空间精度刺激活性[1-3]。未开发的CMOS MEA的应用是它们通过记录和分析由电阻粘附裂隙引起的电压噪声来检测粘附细胞的能力[4-6]。这可能归因于该方法,该方法需要考虑传感器位点的规模,粘附单元的大小,连接电容和相应的采样频率。在这里,我们采用两种不同类型的CMOS MEA和相应的记录系统来评估其可靠的无标签检测能力检测粘附细胞培养的能力(癌细胞系HT-29)。细胞粘附电压噪声通过光谱功率密度(S V)分析。
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