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本文研究了随机量子电路中的保真度衰减,重点是掉期操作。所考虑的模型交织了具有任意排列的2量门的层。作者分析了通过故障掉期门的组合实现的2 Quibit门和故障排列的效果。为了易于分析,该模型由可解决的模型替代,其中置换量用π→𝑅π𝑅取代,以从HAAR随机分布中取样。

保真度衰减和在随机量子电路中积累的误差

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