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我们用数值方法研究了 1 + 1 维 Haar 随机量子电路的测量驱动量子相变。通过分析三部分互信息,我们能够精确估计临界测量率 pc = 0 . 17(1)。我们提取了与渗透值以及稳定器电路值一致的相关体积临界指数的估计值,但与 Haar 随机情况的先前估计值不同。我们对表面序参数指数的估计似乎与稳定器电路或渗透的估计值不同,但我们不能明确排除三种情况下所有指数都匹配的情况。此外,在 Haar 情况下,纠缠熵 S n 的前因子强烈依赖于 Rényi 指数 n ;对于稳定器电路和渗透,这种依赖性不存在。稳定器电路的结果用于指导我们的研究并识别具有弱有限尺寸效应的度量。我们讨论了我们的数值估计如何限制转变理论。

随机量子电路中测量诱导跃迁的临界特性

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