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在使用我们的 Smart Cut 技术生产 SiC 基板时,我们发现优化键合步骤对于实现高水平的电导率和热导率至关重要。我们的研究表明,键合界面对总基板电阻的贡献相当于标准 SiC 材料的几十微米。在 Smart Cut 将薄片 SiC 从供体基板分割并转移到载体基板后,我们采用了精加工工艺,以确保通过抛光和退火,我们新形成的基板已准备好进行外延处理并与 SiC 器件加工兼容。请注意,我们的 Smart Cut SiC 技术生产的晶圆顶层没有基面位错(见图 2 和 3)。
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