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摘要 — 本文详细介绍了时域 (TD) 测试，以直观地了解带通 (BP) 负群延迟 (NGD) 对双线微带电路行为的影响。为了确定 TD 测试期间要使用的输入信号的中心频率和带宽，对电路进行了频域 (FD) S 参数分析。这项初步分析首先借助仿真，然后借助测量进行，结果显示 15 MHz（分别为 8 MHz）频带的 NGD 在 2.345 GHz（分别为 2.364 GHz）左右。为了在 TD 中观察 2.345 GHz 左右的 NGD 影响，使用高斯脉冲整形的 2.345 GHz 正弦载波进行了 TD 实验。在这些 TD 测试中，BP NGD 特征通过输出包络得到验证，输出包络比输入包络提前出现上升沿和下降沿。实验还表明，当输入正弦载波位于锂电路 NGD 频带之外时，输出通常会延迟。
带通NGD时域双...实验测试
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