机构名称：
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材料与技术介绍，结构分析工具：X射线衍射：相位识别、索引和晶格参数确定、使用各种模型进行分析线轮廓拟合、中子衍射、反射高能电子衍射和低能电子衍射；显微镜技术：光学显微镜、透射电子显微镜（TEM）、能量色散X射线微分析（EDS）、扫描电子显微镜（SEM）、卢瑟福背散射光谱（RBS）、原子力显微镜（AFM）和扫描探针显微镜（SPM）；热分析技术：差热分析（DTA）、差示扫描量热法（DSC）、热重分析（TGA）；电气表征技术：电阻率、霍尔效应、磁阻；
NPTEL 教学大纲 - 材料特性
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