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X射线光电子光谱（XPS）是一种用于研究聚合物电解质膜燃料电池和电解剂中催化剂的表面特性和组成的常用技术。XPS分析催化剂层（CLS）越来越多地使用催化剂和支持组成和结构之间的关系，催化剂墨水组成，CL制造方法和参数以及它们的性能和耐用性。基于IR的CLS的表征由于多种因素，包括对IR 4F光谱的解释，O 1S光谱中的催化剂和离子体物种的解释以及离子体对X射线损伤的敏感性，这会导致催化剂ionomer界面的变化，通常比样本之间的差异更大。本研究报告了一种详细的XPS表征的方法，基于IR的CL，建立定量指标，并提供有关催化剂离子体界面的见解，该界面可以与多种处理和性能指标相关。具体来说，我们已经评估了使用几种常见CL涂层方法制备的CL中的表面组成差异。我们还研究了用不同的催化剂负荷和电化学测试后选定样品制备的CL。通常，我们发现了元素比和从O 1S光谱的详细分析得出的趋势的良好协议。此外，O 1S分析揭示了催化剂组成的差异，解决了与IR 4F光谱解释有关的一些挑战和局限性。
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