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电离辐射会导致电子系统的退化。对于存储设备，这种现象通常表现为存储数据的损坏，在某些情况下，在操作过程中电流消耗突然增加。在这项工作中，我们提出了增强的实验仪器，以对电子系统进行深入的单粒子效应 (SEE) 监控和分析。特别是，我们专注于存储设备中的单粒子闩锁 (SEL) 现象，其中测试需要电流监控和控制。为了揭示所提出的仪器的特性和功能，我们展示了 PROBA-V ESA 卫星上使用的 SRAM 存储器案例研究的结果。在这项研究中，我们在两个不同的辐照设施中使用质子和重离子进行了实验活动，展示了仪器的功能，例如同步、高采样率、快速响应时间和灵活性。使用这种仪器，我们可以报告观察到的 SEE 的截面，并进一步研究它们与观察到的电流行为的相关性。值得注意的是，它可以识别 95% 的单事件功能中断 (SEFI) 是在 SEL 事件期间触发的。
单粒子效应在空间应用的研究
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