Loading...
机构名称:
¥ 1.0

高能电荷颗粒。电子孔对。电场将这些电子孔对分开,然后在敏感节点上收集。由于电荷积累而产生了短的电压脉冲。[5]。高密度记忆以及电子设备在生物应用中至关重要。低电压下运行记忆的主要基本原理是在尽可能少的能量的同时最大化电池寿命。正常6T SRAM单元的读取过程噪声免疫很小。随着电源电压的降低,噪声免疫力显着降低。结果,标准6T SRAM无法在低电源电压下操作。已知脱钩的7T和8T SRAM细胞的利用是通过将存储节点与位线分离出来,从而增强了读取操作过程中的噪声免疫。但是,值得注意的是,这些细胞具有相当大的泄漏功率。即使数百万个SRAM细胞可能保持在“待机状态”状态,记忆的功耗呈指数增长。[6] [7] [8] [9] [10]。嵌入式内存配置已通过现代VLSI(非常大规模的集成)系统增强。在处理RAM时,将DRAM(动态随机访问存储器)和SRAM(静态随机访问存储器)之间的区分至关重要。“静态”一词是指所有组件始终耦合到VDD或VSS的电路,从而消除了浮动节点问题,并允许仅使用电容器和单个晶体管构建DRAM单元。7T SRAM“随机”一词表示可以在需要时访问数据,并在可以存储的任何地方访问。访问需要内存搜索和位存储。每个单元存储一点点。[11] [12] [13]。SRAM单元是由晶体管和闩锁建造的。电容器都用于存储数据和检索数据,但是充电和排放它们的过程需要大量精力和时间。此益处是SRAM细胞广泛使用SOC的主要原因。[14] [15] [16] [17],其中它们是设计和实施的重要组成部分。响应于当前SOC技术的功耗降低和更高生产率的需求增加,已经创建了多种SRAM细胞设计,每种SRAM细胞设计都经过优化,以表现出色。这导致可以存储在给定数量的空间中的记忆量显着增加。

64位SRAM内存阵列的设计和性能评估

64位SRAM内存阵列的设计和性能评估PDF文件第1页

64位SRAM内存阵列的设计和性能评估PDF文件第2页

64位SRAM内存阵列的设计和性能评估PDF文件第3页

64位SRAM内存阵列的设计和性能评估PDF文件第4页

64位SRAM内存阵列的设计和性能评估PDF文件第5页

相关文件推荐