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狄拉克材料中完美锥形色散的偏差（例如质量或倾斜的存在）增强了电子传输的控制和方向性。为了识别这些特征，我们分析了掺杂大质量倾斜狄拉克系统中光学反射率的热导数光谱。确定态密度和化学势是使用热卷积计算有限温度下光学电导率张量的初步步骤。温度变化引起的反射变化可以清楚地识别光学响应中的临界频率。通过测量热导数光谱中的这些光谱特征，可以确定能隙和能带结构倾斜。对各种低能狄拉克汉密尔顿量的光谱进行了比较。我们的研究结果表明，热差光谱有望成为一种探测二维狄拉克费米子带间跃迁的有价值技术
倾斜二维材料热差反射率...
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