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摘要：Mueller矩阵椭圆测量法已用于精确表征石英波板，用于在半导体行业苛刻的应用和高精度偏光仪。我们发现这种实验技术对使用是有益的，因为它使我们能够在宽光谱范围内获得绝对和精确的延迟测量，波浪板方向以及复合波板调节。在本文中，证明了在Mueller矩阵模型和数据处理中包括光活性的必要性。尤其是，石英的光活性会影响化合物双重垂直方向波动板之间的未对准的调整。我们证明，从模型中省略光学活性会导致未对准的值不准确。此外，模型中包括有限单色带宽引起的去极化效应。将光活性纳入Mueller矩阵模型已需要基于适当的本构方程的严格理论发展。已将广义的YEH的基质代数与双异型培养基用于计算具有减少对称性的手性材料中的本本征传繁殖。基于应用方法，作者提出了代表光学波动板和双座的Mueller矩阵的近似分析形式，并提供了有关该方法的分析和数值限制的讨论。
光活性对组成波板的Mueller矩阵椭圆法的影响
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