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可用于探测材料表面的元素，电子和化学特性。11–14虽然通过峰值解构对XPS数据的解释很普遍，但对技术的基本理解和对正确数据处理的欣赏通常却经常丢失。15最近，在XPS领域的领先从业人员之间的社区努力中准备了一系列宝贵的指南，目的是使XPS的新研究人员能够计划实验并将其数据理解到高水平。本系列发表在“ X射线光电子光谱的实用指南”中，例如“用于X射线光电子光谱的实用指南：规划，进行和报告XPS测量的第一步” 16和“实用曲线拟合X射线光电机光谱曲线光谱”的实用指南。17此外，还有许多先进的技术，许多材料科学家都不熟悉。此外，XPS制造商的当前重点是使用表面探针的组装对单个分析点进行的高吞吐量检查，甚至是非表面特定技术（例如拉曼光谱）。由于此类系统的可用性变得更加广泛，因此需要对多技术表面分析的能力，优势和弱点进行广泛了解。本综述旨在强调使用基于实验室的XP和相关表面技术的材料分析这种组合方法的好处。在基于实验室的系统（离子散射，紫外光电器，螺旋螺旋发射和电子能量损失光谱）上最常规发现的那些实验探针的应用，尽管许多其他补充
材料化学-RSC出版
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