机构名称：
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摘要 - IGBT在各种电力电子应用中扮演至关重要的角色，要求长时间的可靠性。了解其故障机制对于制造商和工程师至关重要。这项研究通过将IGBT降解（尤其是死亡氧化物污染和栅极氧化物污染）与进行的电磁（EM）扰动相关联，以解决差距。使用功率循环系统在600V，16A IGBT上进行加速衰老，揭示了静态和动态参数的显着变化。切换瞬变显示出归因于经验丰富的降解的转弯速度放缓。实验设置证明了降解，切换瞬变（尤其是收集器电流（I C）关闭）之间的直接联系，并减少了执行的EM扰动。关键字 - IGBT，模具降解，闸门氧化降解，加速衰老，IGBTS的信号光谱分析，进行了EM发射。
的衰老及其对EM进行排放的影响
主要关键词
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