机构名称：
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摘要：直接金属沉积（DMD）可用于表面的覆层以及修复零件和功能的修复和增材制造。过程监视和控制方法可确保制造过程中的质量一致。通过光发射光谱进行过程辐射进行监测可以提供有关过程条件和沉积层的信息。这项工作的目的是使用光谱仪从过程中测量光学排放，并识别光谱中的元素线。单光谱已从该过程中记录下来。基于CO的粉末（METCOCLAD21）的单个轨道在S235碱基材料上被覆盖。已经研究了各种过程参数对元素线发病率和强度的影响。此外，已经对光谱排放的激光束，粉末射流和底物之间的相互作用进行了单独检查。结果表明元素线不经常发生。因此，单光谱被分类为包括元素线（A型）和不包括元素线（B型）的光谱。此外，只能检测到非离子元素，铬经常出现。表明，增加激光功率会增加A型光谱的发生率和特定CR I线的强度。，元素线仅在激光束与沉积层的熔体池相互作用中经常发生。
通过原子发射光谱在线观察激光覆层过程 使用复杂的有价值的卷积神经网络 便携式移动步态监视器系统基于用于监视步态和电力电子的Triboelectric纳米生成器
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