Loading...
机构名称:
¥ 1.0

规格作为基于差异较小的材料的设计。除了折射指数外,材料还必须满足其他要求,其中的材料在波长范围内具有可忽略的损失。但是,在介电材料中,折射率和吸收边缘是连接的。[1]具有高折射率的材料在长波长下具有吸收边缘,而低折射率材料在短波长下具有吸收边缘。tio 2是具有最高折射率的介电材料,在频谱的可见范围(VIS)中,开始在≈400nm处发射。具有更高折射率的处置材料,而在VIS中保持透明,将具有广泛的实际相关性,因为它将允许使用层较低的层且整体厚度降低的干扰设计。如本文所示,纳米胺的沉积速率超过了TIO 2之一。预计厚度降低和高沉积速率都会导致涂料系统的生产率提高和制造成本降低。除了制造纳米酰胺外,一种将折叠指数与散装材料特性脱离的方法是扫视角度沉积,[2,3]中形成了柱状纤维结构,从而减少了有效的折射率。因此,将在散装层和具有相同材料的柱状结构的层面层之间发生干扰效应。[4,5]。在2016年[7]由于没有不同材料之间的接口,这打开了有趣的效果,例如板极化器或更高的激光损伤抗性。如参考文献所述,一种可比较的方法是由有机膜的离子蚀刻形成的自组织结构。再次,通过蚀刻降低了层的有效折射率,该蚀刻引入了局部和未定位的多孔结构。[6]如果将层用作抗反射设计中的最外层,则此效果是有益的。至于瞥见角度沉积,自组织层的缺点是对环境条件的敏感性提高。一个最近克服两个特征之间联系的概念是量化纳米胺(QNL)的,这是Willemsen,Jupé等人首次报道的。

磁铁溅射的无定形硅– SIO2量化纳米胺

磁铁溅射的无定形硅– SIO2量化纳米胺PDF文件第1页

磁铁溅射的无定形硅– SIO2量化纳米胺PDF文件第2页

磁铁溅射的无定形硅– SIO2量化纳米胺PDF文件第3页

磁铁溅射的无定形硅– SIO2量化纳米胺PDF文件第4页

磁铁溅射的无定形硅– SIO2量化纳米胺PDF文件第5页