在这项工作中,我们提出了一种异质整合解决方案,用于将高级节点CMO与GAAS激光器和光电二极管以及光子积分电路(PIC)相结合,以在增加带宽密度和减少每个区域的功率消耗方面推动限制。通过硅VIA(TSV)进行3D集成,包括高密度,20个Ilin螺距芯片到芯片互连,以及通过3D打印形成的光学互连。已经开发了一种TSV last集成方案,以与PIC制造和开发的自定义电镀解决方案兼容,以实现无效的填充。微气象夹选项,例如SN或AU,以与多项目晶圆(MPW)运行的Die兼容,并提出了测量的电气,以将CMOS芯片与3D PIC整合在一起。关键字:光子学,TSV,异质整合。
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