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半导体技术的进步增强了传感器阵列的功能，同时减小了特征尺寸。由于物联网的普及，传感器现在可用于各种环境中运行的许多应用。质子和中子辐射始终存在于我们周围，但对海平面的电子设备没有危害。随着晶体管和传感器元件尺寸的减小以及传感器和执行器集成电路中晶体管密度的增加，辐射对半导体器件、传感器及其电子电路（统称为传感系统）可靠性的影响已不再可以忽略不计，即使在海平面也是如此。然而，辐射物理学和半导体物理学的知识非常不同，需要将这两组知识结合起来才能评估辐射对传感系统可靠性的影响。在这项工作中，我们总结了来自太空和航空电子研究的关于辐射对半导体器件影响的广泛研究，并应用它们的结果来研究标准工业应用中传感系统的辐射可靠性。在这项工作中，我们还说明了如何对接近传感器中的电子设备进行辐射可靠性分析，我们通过进行辐射实验对此进行了研究。
辐射环境下电子可靠性分析
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