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摘要:跨学科(例如医疗保健,汽车,取证和天文学)的高光谱成像的应用受到复杂的过滤器和分散透镜的要求。通过利用具有工程光谱响应和高级信号处理技术的设备,可以使光谱成像过程在各个领域更容易接近。我们提出了一种使用光子捕获表面纹理(PTST)的光谱响应设计方法,该方法消除了外部衍射光学元件的必要性,并促进了系统的微型化。我们已经开发了一个分析模型,以在PTST存在下使用硅的有效折射率来计算电磁波耦合。我们已广泛验证了模拟和实验数据的模型,以确保我们的预测准确性。我们观察到峰耦合波长与PTST周期之间存在强烈的线性关系,以及与PTST直径的中等比例关系。此外,我们确定了跨间距与波传播模式之间的显着相关性。模型的实验验证是使用配备PTST的光电二极管通过互补的金属氧化物 - 氧化 - 兼容器兼容的过程进行的。此外,我们演示了这些配备PTST的光二极管的电气和光学性能,以显示高速(响应时间:27 PS),高增益(乘法增益,M:90)和低工作电压(击穿电压:〜8.0 V)。最后,我们利用制造的配备PTST光电二极管的独特响应来模拟高光谱成像,提供原理证明。这些发现对于高性能光谱仪的片上整合,保证实时数据操作以及高光谱成像系统的成本效益的产生至关重要。关键字:雪崩光电二极管,高光谱成像,多光谱成像,光子捕获功能,光谱响应工程■简介

由光电二极管中的周期性表面纹理启用了独特的高光谱响应设计

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