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纳米结构薄膜具有改变表面性质的能力，当它们能够生成具有可控孔隙率的层时，这种能力甚至更强。与致密层相比，这些（多）层的隐式完整性较低，阻碍了获得亚微米厚度（薄片）的电子透明切片，这成为（扫描）透射电子显微镜（(S)TEM）研究稀缺的主要原因之一。意识到这一机会，本报告概述了应用各种（S）TEM 技术研究纳米结构和多孔光子表面的可能性。提供了几个工作示例来说明在通过斜角物理过程制备的中孔薄膜以及通过外延方法制备的氮化物纳米线阵列的情况下可以获得的信息类型。将证明这种方法能够实现几项开创性的工作，这些工作对于完成此类孔隙率控制涂层的表征至关重要。由于 (S)TEM 的突破性进展，我们得以解决诸如电子透明样品的制备及其结构、形态、界面和成分的高级表征等各种主题，这些突破性进展允许在微观和纳米层面上获得高分辨率成像、光谱或断层扫描。最后，将 (S)TEM 确立为多孔纳米结构皮肤的高级结构、化学和形态表征的参考工具，将开辟新的视野，提供更好和新的见解，从而优化此类结构的制造和设计。
材料表征 - -ORCA - 卡迪夫大学
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