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在其各自的L -Edges处第一行转变元件的软X射线吸收光谱提供了有关金属中心的氧化和自旋态的重要信息。但是,辐射敏感样品中相关的样品损伤显着改变了氧化还原活性金属中心的电子和化学结构。在这里,我们测量了Mn III(ACAC)3复合物的软X射线光谱,该光谱在八面体环境中包含氧化还原活性Mn III金属中心,并具有超导性的过渡 - 边缘检测器。为了减少主要是由于自由基和电子扩散而造成的次要损伤,在实心样品上收集光谱在30 K和80 K下收集。从第一次扫描开始,我们检测到X射线引起的样品损伤的贡献,导致MN II强度的变化。然而,在低温下,尤其是在30 K时,我们不会观察到辐射损伤的逐渐增加,并在同一位置使用X射线束连续扫描。在我们的估计剂量为90 kgy时,我们发现Mn III(ACAC)3的62%仍然完好无损。但是,在室温下,我们看到辐射损害逐渐增加,而在同一地点的扫描数量增加,这与在其他研究中相同的次级自由度和电子扩散率增加的可能性是一致的。

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